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测量检测装置是指在半导体制造过程中用于测量和检查电气特性、光学特性、形状和尺寸测量等的设备。 不仅是半导体,还有其他工业生产的物品,在生产线的每个过程中都要不断监测缺陷,并进行分析和反馈,以提高成品率和确保可靠性。 在电子设备的生产中,缺陷是可以纠正的,但在半导体方面,虽然有一些例外,但纠正几乎是不可能的,检查的目的是消除缺陷,防止再次发生,并对缺陷进行分类。
"Klarity(R)"
Shape measurement system, Wafer defect inspection system, Automated defect analysis and data management system
LED&驱动器测试解决方案、LED 电性测试模块、ESD 测试系统、LED电源测试解决方案、致冷芯片控制器、温度记录器
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